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机译:单面硅微带的辐射耐受性
Holmes-Siedle, A G; Hanneborg, A; Robbins, M; Watts, S; Allport, P P; Brenner, R; Moser, H G; Roe, S; Straver, J; Weilhammer, Peter; Chochula, P; Mikulec, I; Moszczynski, S; Turala, Michal; Dabrowski, W; Grybos, P; Idzik, M; Loukas, D; Misiakos, K; Siotis, I; Zachariadou, K; Dulinski, W; Michele, J; Schäffer, M; Turchetta, R; Booth, P; Richardson, J; Smith, N; Gill, K; Hall, G; Sachdeva, R; Sotthibandhu, S; Vitè, Davide F; Wheadon, R; Arrighi, C; Delpierre, P A; Habrard, M C; Clemens, J C; Mouthuy, T; Avset, B S; Evensen, L; Hansen, T A; Bisello, D; Giraldo, A; Paccagnella, A; Kurchaninov, L L; Spiriti, E; Apsimon, R J; Giubellino, P; Ramello, L; Prado da Silva, W L; Krammer, Manfred; Schuster, M;
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